Dominique Moock

Oberflächenbeschichtungen von Silizium, HOPG und Graphitanoden mittels Thiol-En/In Click-Chemie, deren Charakterisierung mit XPS und ToF-SIMS sowie elektrochemische Untersuchung

Dominique Moock

Épuisé

Dominique Moock Oberflächenbeschichtungen von Silizium, HOPG und Graphitanoden mittels Thiol-En/In Click-Chemie, deren Charakterisierung mit XPS und ToF-SIMS sowie elektrochemische Untersuchung

4,3